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    YX-JX40
    詳情介紹

    儀器用途:

    用于PCB電路板金相分析微切片的測量和分析。


    儀器特點:

    1.光學系統采用無限遠色差校正光學系統。

    2.軟件通俗易懂,可實現點、線、圓弧、半徑、直徑、角度等測量,可根據客戶要求定制軟件功能。


    規格參數:

    型號 YX-JX30 YX -JX40
    光學放大倍率 50x~500x 50x~500x
    目鏡 10x(帶測微尺) 10x(帶測微尺)
    物鏡 5x、10x、20x、50x 5x、10x、20x、50x
    轉換器 四孔滾珠式轉換器 內定位五孔轉換器
    照明系統 落射照明裝置:高亮度LED燈照明,亮度可調。

    上照明系統:反射燈室、暖色

    下照明系統:透射燈室、暖色

    CCD相機

    300萬像素高清攝像機 300萬像素高清攝像機
    測量精度 0.0012mm 0.0012mm
    載物臺

    雙層機械載物:190x140m

    m移動范圍:750x50mm

    雙層機械載物臺:175x145mm

    移動范圍:76x42mm

    樣品高度 最大樣品高度28mm 最大樣品高度28mm
    測量軟件 YX-J YX-J


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    主營離子污染測試儀,自動影像測量儀,尺寸快速測量儀,2.5次元測量儀

    廣東源興光學儀器有限公司 地址:東莞市萬江新和電化路2號合喜工業園

    聯系人:廖小姐 手機:13528548612電話:0769-38807533 傳真:0769-38826322/38826321

     
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